I04-切断研磨面(XZ面)
スケールバー:10mm，Sm:マイロナイト面構造断面，S’:鏡下で観察された，細粒基質の再結晶斜長石の長軸の伸びの方向
面構造に垂直で線構造に平行な面で切ったXZ面．ずれのセンスを決定するには，この面の薄片を作って観察する．非対称微小構造や複合面構造が指標になる．この試料は，細粒基質を構成している再結晶斜長石の，顕微鏡下で観察できる長軸の伸びの向き（S’）とSmの関係から右ずれと判定された．肉眼レベルでも，S’は輝石ポーフィロクラストの末端の伸び（テイル）の形態にあらわれている．
